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    在腳本程序中應用Importance Sampling Specifications
    時間:2010-12-22 16:11來源:訊技光電作者: 技術部點擊:打印

    該文檔描述利用FRED腳本編程語言一次對一組表面應用“重要性采樣定義”(importance sampling specifications)的一種方法。 與光源、表面、鍍膜、材料、散射模型、ARN和raytrace控制設置不同, 散射的“重要性采樣定義”在Fred 的目標樹上沒有參考節點。通常情況下,用戶可能會通過拖拉(drag and drop)的方式,把一個光學表面特性施加到一組光學表面,而散射“重要性采樣定義”因沒有目標樹上的節點位置,無法用“拖拉”的方式進行表面特性定義,它通過利用腳本編程語言來實現這一功能。

     

     http://fred-kb.photonengr.com/files/2010/12/setImportanceSampling.frd

     Applying Importance Sampling Specifications in Script

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