摘要
建模結果與測量數據的比較對于任何光學元件的設計過程都非常重要。因此,有必要將測量到的高度剖面(例如微結構的高度剖面)導入建模軟件,以評估真實元件的性能。因此,在本文檔中,我們將展示如何使用位圖文件導入高度數據。
簡介
步驟 1
- 使用Import功能將位圖圖像文件作為Data Array導入。
步驟 2
- 設置數據陣列的坐標、插值和外推法。
步驟 3
- 設置數據陣列的物理屬性。由于默認的長度單位是米,因此一定要指定一個合適的系數來表示微結構的高度。
步驟 4
- 檢查導入數據陣列的高度值,并通過Manipulation菜單進行調整(例如,應用常數乘法)。
步驟 5
- 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
步驟 6
- 將導入的數據陣列加載到采樣界面
步驟 7 .
- 將堆棧的擴展設置為 DOE 的大小
步驟 8
- 如果需要,增加 TEA 算法的采樣系數
導入的 DOE 的 3D 視圖
使用導入 DOE 創建的衍射光束分束器
我們使用導入的 DOE 構建衍射光束分束器。緊跟在 DOE 之后的相位輪廓反映了從 DOE 加載的高度輪廓。從遠場圖片中,我們可以觀察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。這可以通過調整折射率等參數進一步優化。
文件信息
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